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新一代SPECTRO XEPOS型仪器的推出，为能量色散X射线荧光技术的发展带来一次革命性的飞跃，将SPECTRO的EDXRF系列产品带入令人叹为观止的，主量、微量及痕量多元素同时分析的，崭新的阶段。
令人惊叹的SPECTRO XEPOS可完美地完成各种分析任务，涵盖从快速筛分到精确质量控制等的方方面面。SPECTRO XEPOS的应用可覆盖工业领域的临线过程分析，也可覆盖地质与矿物分析、环境及废弃物监测、及科学研究等。
SPECTRO XEPOS使用50W端窗光管作为X射线源，初级X射线在光学系统内采用不同形式的转换辐射方式优化激发条件，更加有效地激发Na-U范围的元素。仪器配备光闸，可确保仪器始终工作在高稳定性的状态下，并可不关闭X射线管而直接换样品。
检测过程可在充氦气的条件、或真空条件完成。有许多应用可在大气条件下完成。
采用最先进的大尺寸硅飘移SDD检测器，其分辨率以Mn的K-alpha线计小于130eV
仪器参数
Input voltage输入电压
90 – 253 VAC; 50/60 Hz
Power功率
1200 W (without PC)
Fuse保险管
16 A (slow)
Operation temperature操作温度
+10°C – +35°C (50 - 95 ºF)
Specified instrument performance at:
仪器工作室温要求
+15°C – +30°C (59 - 86 ºF)
Humidity at 25 ºC (68 ºF)湿度要求
10 – 80 % (non-condensing)
Optional gas purge Helium仪器使用氦气要求
Pressure压力
1.0 - 3.0 bar (14.5 - 43.5 psi)
Quality纯度
≥ 99.996 % (4.6)
Consumption消耗量
Typical 4.5 l per sample analysis
